白剛玉的粒徑分析方法概述

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一、篩分法。 

優(yōu)點：簡單、直觀、設(shè)備造價低，常用于大于40um的樣品。

缺點：結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

二、顯微鏡（圖像）法。

優(yōu)點：簡單、直觀，可進行形貌分析，適合分布窄（*大和*小粒徑的比值小于10：1）的樣品。

缺點：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無法分析小于1um的樣品。

三、沉降法（包括重力沉降和李新沉降）。

優(yōu)點：操作漸變，儀器可以連續(xù)運行，價格低，準確性和重復(fù)性較好，測試范圍較廣。

缺點：測試時間較長，操作比較繁瑣。

四、電阻法。

優(yōu)點：操作漸變可測顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準確性好。

缺點：不適合測量小于0.1um的顆粒樣品，對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。

五、激光法。

優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍廣，重復(fù)性和準確性好，可進行在線測量和干法測量。缺點：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價較高，分辨力低。

六、電子顯微鏡法。

優(yōu)點：適合測試超新顆粒甚至納米顆粒，分辨力高，可進行形貌和結(jié)構(gòu)分析，

缺點：樣品少，代表性差，測量易受人為因素影響，儀器價格昂貴。

七、光阻法。

優(yōu)點：測試便捷快速，可測液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高。

缺點：不適用粒徑小于1umde樣品，進行系統(tǒng)比較講究，僅適合對塵埃、污染物或已稀釋好的**進行測量，對一般粉體用的不多。

八、透氣法。

優(yōu)點：儀器價格低。不用對樣品進行分散，可測測性材料粉體。

缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布；不能測小于5um細粉。

九、X射線小角散射法。

用于納米級顆粒的粒度測量。

十、光子相關(guān)譜法（動態(tài)光散射法）。

用于納米級顆粒的粒度測量。